• ULM30/N - Nivómetro de ultrasonidos
    ULM30/N - Nivómetro de ultrasonidos
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Descripción

ULM30/N es un sensor de nivel nivométrico de ultrasonidos, dotado de una propia electrónica con microprocesador y memoria de registro.

ULM30/N está compuesto por un transductor de ultrasonidos de última generación adecuado tanto para la transmisión, como para la recepción. La medida del espesor de las capas de nieve se realiza mediante la emisión de una serie de impulsos ultrasónicos y el sucesivo análisis del eco recibido. El sensor, mediante estos datos, oportunamente compensados en base a la temperatura del aire medida por el termómetro incorporado, proporciona la distancia de la superficie objetivo.

Elementos de diagnóstico interno:
• verificación del valor de tensión de la batería,
• verificación de las condiciones de temperatura interna,
• verificación de la inclinación correcta,
• verificación de la calidad de la medida adquirida.

ULM30/N - Nivómetro de ultrasonidos
Características
Rango de temperatura -40 °C/+60 °C
Interfaz de comunicación RS485 protocolo CAE
RS485 SDI-12
Analógica 4-20 mA
Precisión ± 0.01 m
Resolución 1 cm
Dimensiones 210(Ø) x 390 mm
Peso 2.25 kg
Rango de medición 0.5 - 15 m
Soporte
Soporte

Herramienta de soporte para clientes CAETech

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Zero breakdown technology

Tecnología

La robustez está garantizada:
  • -    por la atención de diseño de los detalles;
  • -    por el uso de materiales de alta calidad;
  • -    por la formación óptima de los técnicos de producción.
ZBT permite reducir al mínimo el riesgo de rotura imprevista y pérdida de datos, a través de la presencia de:
  • -    elementos redundantes, los cuales permiten que, en caso de rotura de un elemento, el producto envíe una señal, continuando sin embargo a operar normalmente, dando así el tiempo para intervenir con la sustitución del producto sin perder ningún dato;
  • -    sensores de diagnóstico de vario tipo para el control:
    • o   de la inclinación correcta del instrumento,
    • o   de la calidad de la medida adquirida,
    • o   del valor de la tensión de alimentación,
    • o   del estado de las entradas y salidas,
    • o   de las condiciones de temperatura interna,
    • o   de la fiabilidad de la conexión RF entre todos los dispositivos,
    • o   etc.